Đồng hồ đo độ cứng cao su hiện số Teclock GSD-720K

Add to wishlist

Category: thiết bị ngành sơn nhựa và may mặc

Description
Reviews (0)

Đồng hồ đo độ cứng cao su hiện số Teclock GSD-720K

Thiết bị đo độ cứng cao su Shore D GSD-720K Teclock

Máy đo độ cứng nhựa, Cao su cứng Loại D điện tử Teclock GSD-720K

Model: GSD-720K

Hãng SX: Teclock – Nhật Bản

Đồng hồ đo độ cứng cao su hiện số Teclock GSD-720K

Giới thiệu

Đồng hồ đo độ cứng theo giá trị cho dù vật liệu không rắn chắc như cao su mềm hay cứng (đo độ cứng cho cao su hoặc nhựa).
Gần đây, tiêu chuẩn JIS và tiêu chuẩn ISO đã được sửa đổi đáng kể và chi tiết về độ cứng của cao su và phương pháp đo độ cứng được thay đổi.
Là nhà sản xuất tất cả các thiết bị kiểm tra độ cứng vật liệu không rắn chắc, Teclock đề xuất rất nhiều phương pháp đo độ cứng của không chỉ cao su và nhựa mà còn nhiều vật liệu không rắn chắc và vật liệu đàn hồi.
Đồng hồ đo độ cứng bao gồm 3 loại:
Loại A có độ cứng trung bình.
Loại D có độ cứng cao.
Loại E có độ cứng thấp.
Loại A có xu hướng chỉ ra giá trị cao hơn 1 ~ 2 điểm so với đồng hồ đo độ cứng loại A cũ. Loại D phù hợp cho cao su cứng có nhiều hơn 90 độ cứng được đo bằng máy đo độ cứng loại A và loại E phù hợp với cao su mềm có độ cứng từ 20 trở xuống được đo bằng máy đo độ cứng loại A.

Tiêu chuẩn

Tiêu Chuẩn ASTM B748-90(2021): Phương pháp Thử Nghiệm Tiêu Chuẩn Đo Độ Dày Lớp Phủ Kim Loại Bằng Quan Sát Tiết Diện với Kính Hiển Vi Điện Tử Quét (SEM)

Tiêu chuẩn ASTM B748-90(2021) mô tả một phương pháp thử nghiệm tiêu chuẩn để đo độ dày của lớp phủ kim loại bằng cách quan sát tiết diện của mẫu dưới kính hiển vi điện tử quét (SEM).

Nội dung chính của tiêu chuẩn:
- Mục tiêu:
  - Xác định độ dày của lớp phủ kim loại, đặc biệt là các lớp phủ mỏng hoặc phức tạp.
  - Đánh giá chất lượng và đồng đều của lớp phủ.
- Phạm vi áp dụng:
  - Áp dụng cho nhiều loại lớp phủ kim loại, bao gồm lớp mạ điện, lớp phủ nhiệt, lớp phủ phun.
- Nguyên lý:
  - Chuẩn bị tiết diện: Chuẩn bị một tiết diện cắt ngang của mẫu thử nghiệm, thường bằng cách cắt, mài và đánh bóng.
  - Quan sát bằng SEM: Quan sát tiết diện của mẫu dưới kính hiển vi điện tử quét.
  - Đo lường: Đo trực tiếp độ dày của lớp phủ trên hình ảnh thu được từ SEM.
- Các bước thực hiện:
  - Chuẩn bị mẫu: Chuẩn bị mẫu thử nghiệm, cắt, mài và đánh bóng bề mặt cắt.
  - Quan sát bằng SEM: Quan sát tiết diện của mẫu dưới kính hiển vi điện tử quét.
  - Đo lường: Đo độ dày của lớp phủ trên hình ảnh thu được bằng phần mềm phân tích hình ảnh.
- Yếu tố ảnh hưởng:
  - Chuẩn bị mẫu: Chất lượng của quá trình chuẩn bị mẫu ảnh hưởng đến độ chính xác của kết quả đo.
  - Độ phân giải của SEM: Độ phân giải của SEM ảnh hưởng đến độ chính xác của phép đo.
  - Kỹ năng của người vận hành: Kỹ năng của người vận hành trong việc chuẩn bị mẫu và phân tích hình ảnh.
- Báo cáo kết quả:
  - Ghi lại các thông số đo lường, điều kiện thử nghiệm và các quan sát khác.
Các điểm chính được liệt kê dưới dạng gạch đầu dòng:
- Mục tiêu: Đo độ dày lớp phủ kim loại.
- Phạm vi: Áp dụng cho nhiều loại lớp phủ.
- Nguyên lý: Quan sát tiết diện của mẫu dưới SEM.
- Các bước: Chuẩn bị mẫu, quan sát bằng SEM, đo lường.
- Yếu tố ảnh hưởng: Chuẩn bị mẫu, độ phân giải SEM, kỹ năng người vận hành.
- Báo cáo kết quả: Ghi lại các thông số đo lường và điều kiện thử nghiệm.
Ưu điểm của phương pháp:
- Độ chính xác cao: Cho phép đo độ dày của lớp phủ rất mỏng với độ chính xác cao.
- Phát hiện khuyết tật: Có thể phát hiện các khuyết tật trong lớp phủ như lỗ rỗng, bong tróc.
- Phân tích chi tiết: Cho phép phân tích chi tiết cấu trúc và thành phần của lớp phủ.
Hạn chế của phương pháp:
- Phức tạp: Quá trình chuẩn bị mẫu và phân tích hình ảnh có thể phức tạp.
- Chi phí cao: Yêu cầu sử dụng thiết bị SEM đắt tiền.
- Thời gian thực hiện lâu: Quá trình chuẩn bị mẫu và phân tích dữ liệu có thể tốn thời gian.
Ứng dụng:
- Kiểm soát chất lượng: Kiểm tra chất lượng của lớp phủ trong các ứng dụng yêu cầu độ chính xác cao.
- Nghiên cứu và phát triển: Nghiên cứu và phát triển các quy trình mạ mới.
- Giải quyết sự cố: Phân tích nguyên nhân gây ra các vấn đề về chất lượng lớp phủ.